高精度LCR測(cè)試儀，20Hz ~ 1MHz LCR-8101G高精度LCR測(cè)試儀，提供高達(dá)1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本精確度。另外，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能，并搭配5.6”LCD可以同時(shí)顯示所有測(cè)試參數(shù)及結(jié)果。多步驟測(cè)試功能可以針對(duì)同一待測(cè)體一次執(zhí)行不同參數(shù)的測(cè)量，快速分析待測(cè)體的特性；并且每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟，每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制，執(zhí)行Pass/Fail判定。圖表模式功能，LCR-8101G將以圖表的形式，顯示元器件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化所呈現(xiàn)的規(guī)律，并以曲線圖的形式顯示結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn)配備的GPIB和RS-232C接口，可以用于設(shè)備遠(yuǎn)端控制和讀取測(cè)試結(jié)果。LCR-8101G系列豐富的特點(diǎn)讓您的測(cè)試任務(wù)變得更加簡(jiǎn)單而實(shí)用。 測(cè)試頻率 20Hz ~ 1MHz, 5 位數(shù), ±0.005% 輸入阻抗 100Ω 基本準(zhǔn)確度 ±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C) 測(cè)試速度 交流 (＞ 2kHz) 直流 *大(MAX): 75mS *大(MAX): 30mS 快速(FAST): 150mS 快速(FAST): 60mS 中速(MEDIUM): 450mS 中速(MEDIUM): 120mS 慢速(SLOW): 600mS 慢速(SLOW): 900mS 測(cè)試信號(hào)電平 10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV 短路電流 *大20mA 測(cè)量范圍 R, Z, X 0.1mΩ ~ 100MΩ G, Y, B 10nS ~ 1000S L 0.1nH ~ 100kH C 0.01pF ~ 1F D 0.00001 ~ 9.9999 Q 0.1 ~ 9999.9 θ -180° ~ +180° Rdc 0.1mΩ ~ 100MΩ 測(cè)量參數(shù) 阻抗 (Z), 相位角 (θ), 電感 (L), 電容 (C), 電流電阻 (Rac), 品質(zhì)因數(shù) (Q), 損耗因數(shù) (D), 導(dǎo)納 (Y), 電導(dǎo) (G), 電抗 (X), 電納 (B), 直流電阻 (Rdc) 串聯(lián) / 并聯(lián)等效電路 C + R, C + D, C + Q, L + R, L + Q, L + D 串聯(lián)等效電路 X + R, X + D,